Scatterométrie

Scatterométrie

La scatterométrie est une technique optique basée sur l'analyse de la lumière diffractée par une structure périodique (par exemple un réseau de diffraction). Le mot scatterométrie est d'ailleurs un néologisme issu de l'anglais scattering signifiant diffraction.

La scatterométrie est dite :

  • ellipsométrique si l'analyse se rapporte au changement de polarisation de la lumière induit par la diffraction (cf. ellipsométrie);
  • réflectométrique si l'analyse se rapporte à l'atténuation du signal lumineux incident (cf. réflectométrie).

Utilisation de la scatterométrie

Caractérisation de structures nanométriques

Ce besoin est notamment très fort dans le domaine de la microélectronique. La scattérométrie est une technique de mesure de dimensions nanométriques non-invasive et non-destructive ; elle autorise donc un contrôle de procédé en ligne lors de la fabrication de semi-conducteurs.

Météorologie

Il s'agit dans ce cas d'ondes radar émises depuis un satellite à destination de la surface des océans. La forme des vagues permet de mesurer la vitesse du vent à l'interface mer-air.


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Contenu soumis à la licence CC-BY-SA. Source : Article Scatterométrie de Wikipédia en français (auteurs)

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