PIXE

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Sonde nucléaire PIXE

La Sonde nucléaire PIXE est un instrument de physique où un faisceau de protons accélérés à plusieurs MeV, est produit et utilisé pour mettre en œuvre une technique d'analyse appelée l’émission de photons X induite par particules (en anglais PIXE, comme Particle induced X-ray emisson ou Proton Induced X-ray Emission). Cette technique est utilisée pour déterminer la composition « élémentaire » (au sens d'élément chimique) d'un échantillon. Quand un matériau est exposé à un faisceau d'ions, ses interactions atomiques donnent naissance à un Rayonnement électromagnétique dont la longueur d'onde de chaque photon, qui se trouve dans la gamme des rayons X, est spécifique à l'élément chimique de l'atome où a été généré le photon X. L'un des avantages de la technique PIXE par rapport à d'autres techniques voisines comme le SIMS est sa non destructivité, ce qui la rend très attractive pour l'analyse d'échantillons archéologiques ou artistiques.

Cette technique a été proposée en 1970 par Sven Johansson, de l'Université de Lund en Suède[1]. Des développements plus récents ont conduit à des microPIXE qui produisent des sondes protoniques de l'ordre du micromètre.

PIXE est une sorte particulière de Spectrométrie de fluorescence X (XRF). Le PIGE ( particle-induced gamma-ray emission) est une technique voisine.


Théorie

Trois spectres peuvent être produits par une sonde PIXE:

  1. Un spectre d'émission X.
  2. Un spectre de Spectroscopie de rétrodiffusion de Rutherford
  3. Un spectre de protons transmis.

Références

  1. ↑ Roland Akselsson mini-CV- accessed 2008-01-29

Liens externes

Microscopes
Microscopes optiques Microscope optique • Microscope optique à champ large • Microscope confocal (éventuellement à balayage laser) • Microscope à contraste de phase • Microscope de fluorescence par réflexion totale interne • Stéréomicroscope • Microscope 3D à déconvolution
Microscopes électroniques Microscope électronique • Microscope électronique en transmission (MET) • Microscope électronique à balayage (MEB) • Microscope électronique à balayage par transmission (MEBT) • Microscope électronique par réflexion
Autres microscopes « à sonde locale » Microscope à force atomique • Microscope optique en champ proche • Microscope à effet tunnel
Microscopes ioniques Spectrométrie de masse à ionisation secondaire (SIMS) • Sonde atomique tomographique • Sonde nucléaire (PIXE)
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